高低溫試驗(yàn)_高低溫測(cè)試_高低溫測(cè)試報(bào)告_高低溫檢測(cè),是從事工業(yè)與消費(fèi)產(chǎn)品測(cè)試、檢驗(yàn)與驗(yàn)證并具有第三方公正地位的專業(yè)檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)。實(shí)驗(yàn)室已取得中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可證書(shū)(CNAS ),國(guó)家計(jì)量資質(zhì)認(rèn)定證書(shū)(CMA )和國(guó)際運(yùn)輸安全協(xié)會(huì)認(rèn)證(ISTA ),實(shí)驗(yàn)室依照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC17025:2005《檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求》管理和運(yùn)行,具備向社會(huì)出具公正性檢測(cè)報(bào)告的資格。
高低溫試驗(yàn)_高低溫測(cè)試_高低溫測(cè)試報(bào)告_高低溫檢測(cè)介紹:
高低溫箱具有較寬的溫度控制范圍,其性能指標(biāo)均達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T10592高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件,適用于按GB/T2423.1、2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法,試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫及高溫試驗(yàn)。適用于電工電子產(chǎn)品(包括元件、設(shè)備及其它產(chǎn)品)的高低溫度試驗(yàn);
高低溫測(cè)試是用來(lái)確定產(chǎn)品在高溫氣候環(huán)境條件下儲(chǔ)存、運(yùn)輸、使用的適應(yīng)性的方法。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于高溫的溫度和曝露持續(xù)時(shí)間。
高低溫試驗(yàn)_高低溫測(cè)試_高低溫測(cè)試報(bào)告_高低溫檢測(cè)流程:
一、高溫試驗(yàn):
不帶電貯存:70℃,保持48h,恢復(fù)2h,測(cè)試設(shè)備是否工作正常;
帶電工作:55℃,保持工作狀態(tài),觀察設(shè)備是否正常工作;
依據(jù)標(biāo)準(zhǔn):GJB 150.3A-2009、GBT2423.2等。
二、低溫試驗(yàn):
不帶電貯存:-40℃,保持24h,恢復(fù)2h。測(cè)試設(shè)備是否工作正常;
帶電工作:-20℃,保持工作狀態(tài),觀察設(shè)備是否正常工作;
參考標(biāo)準(zhǔn):GJB 150.4A-2009、GBT2423.1等。
三、濕熱試驗(yàn):
本試驗(yàn)應(yīng)按GB/T 2423.4 試驗(yàn)Db 進(jìn)行。除性能檢測(cè)外,不得對(duì)被試裝置通電。
溫度:+55 ℃和+25 ℃;
周期數(shù):2(呼吸效應(yīng));
時(shí)間:2×24 h.
高低溫試驗(yàn)_高低溫測(cè)試_高低溫測(cè)試報(bào)告_高低溫檢測(cè)試驗(yàn)方法:
先將箱溫調(diào)至 25 ℃±3 ℃,并保持此值,相對(duì)濕度調(diào)至 45%~75%進(jìn)行2 h~6 h 穩(wěn)定溫度處理。在{zh1}1 h 內(nèi),將箱內(nèi)相對(duì)濕度提高至不低于95%,溫度仍保持25 ℃±3 ℃。
穩(wěn)定階段之后循環(huán)開(kāi)始,使箱溫在2.5 h~3 h 內(nèi)由25 ℃±3 ℃連續(xù)上升到 55 ℃±2 ℃,這期間除{zh1}15 min 內(nèi)相對(duì)濕度不低于90%外,升溫階段相對(duì)濕度都不應(yīng)低于95%,以使試品表面產(chǎn)生凝露,但不得在大型試驗(yàn)樣品上產(chǎn)生過(guò)量凝露。然后在溫度為55 ℃±2℃的高溫高濕環(huán)境下保持到從循環(huán)開(kāi)始算起12 h±0.5 h 止。這一階段的相對(duì)濕度,除最初和{zh1}的15 min內(nèi)不低于90%外,均應(yīng)為(93±3)%。
然后在 3 h~6 h 內(nèi),將箱溫由55 ℃±2 ℃降至 25 ℃±3℃。最初1.5 h的降溫速率為10℃/h,這期間的相對(duì)濕度除最初的15 min 內(nèi)不低于90%外,其他時(shí)間均不低于95%。
降溫之后,溫度保持 25 ℃±3 ℃,相對(duì)濕度不低于 95%,從循環(huán)開(kāi)始算起24 h 為一周期。
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